仪器仪表
- JB/T 6874-1993 工业气体分析器 技术条件
- JB/T 8223.3-1999 电工仪表用零部件 轴尖
- JB/T 8223.4-1999 电工仪表用零部件 指针
- JB/T 8223.5-1999 电工仪表用零部件 平衡锤
- JB/T 8223.6-1999 电工仪表用零部件 调零器
- JB/T 8223.7-1999 电工仪表用零部件 底脚
- JB/T 8223.8-1999 电工仪表用零部件 导电片
- JB/T 8223.9-1999 电工仪表用零部件 止挡
- JB/T 8223.10-1999 电工仪表用零部件 游丝支片
- GB/T 13969-2008 浮筒式液位仪表
- GB/T 25106-2010 扭力天平
- GB/T 25107-2010 机械天平
- JB/T 6791-2010 仪器仪表用端面宝石轴承
- GB/T 10586-2006 湿热试验箱技术条件
- GB/T 10591-2006 高温 低气压试验箱技术条件
- GB/T 16825.1-2008 静力单轴试验机的检验 第1部分:拉力和(或)压力试验机测力系统的检验与校准
- GB 10987-1989 光学系统参数的测定
- GB 10988-1989 光学系统杂(散)光测量方法
- GB 11007-1989 电导率仪试验方法
- GB 11162-1989 光学分划零件通用技术条件
- GB 5274-1985 气体分析 校准用混合气的制备 称量法
- JB/T 4279.18-2008 漆包绕组线试验仪器设备检定方法 第18部分:耐冷冻剂试验装置
- GB/T 12085.3-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分:机械作用力
- GB/T 12085.4-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第4部分:盐雾
- GB/T 12085.6-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第6部分:砂尘
- GB/T 12085.8-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第8部分:高压、低压、浸没
- GB/T 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验
- GB/T 12085.11-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉
- GB/T 12085.12-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第12部分:污染
- GB/T 12085.13-2010 光学和光学仪器环境试验方法第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
- GB/T 12085.15-2010 光学和光学仪器环境试验方法第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验
- GB/T 12085.7-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第7部分:滴水、淋雨
- GB/T 12085.9-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第9部分:太阳辐射
- GB/T 12085.2-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热
- GB/T 12519-2010 分析仪器通用技术条件
- GB/T 19146-2010 红外人体表面温度快速筛检仪
- HG/T 2742-1995 磁性浮子式液位计技术条件
- GB 7723-1987 固定式电子衡
- GB 7898-1987 杠杆式吨位天平
- JB/T 8223.1-1999 电工仪表用零部件 张丝和吊丝